SEM掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。該設(shè)備是利用電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。
SEM掃描電鏡的分辨率可以達(dá)到納米級別，甚至在一些先進(jìn)的設(shè)備中可以達(dá)到亞納米級別，能夠清晰地觀察到樣品表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)和形貌特征。具有良好的景深，可以展示樣品的立體結(jié)構(gòu)，便于理解樣品的形貌。
SEM掃描電鏡憑借其高分辨率和多功能性，在眾多領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用：
1、材料科學(xué)：用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)、成分和缺陷，如觀察金屬材料的晶粒、相界面和微觀裂紋等，有助于優(yōu)化材料性能和開發(fā)新材料。
2、納米技術(shù)：用于分析和表征納米材料，如觀察納米顆粒、納米線、納米管等納米結(jié)構(gòu)的形態(tài)和尺寸，幫助研究人員理解納米材料的特性和行為。
3、生物醫(yī)學(xué)：用于觀察細(xì)胞、組織和微生物等生物樣品的超微結(jié)構(gòu)。
4、半導(dǎo)體行業(yè)：在半導(dǎo)體制造過程中，用于檢測芯片表面的缺陷、測量線寬和層厚，確保生產(chǎn)工藝的精確控制。
5、地質(zhì)學(xué)：用于研究礦物的微觀結(jié)構(gòu)和成分，如觀察礦物的晶體形態(tài)、裂隙和包裹體等，幫助地質(zhì)學(xué)家了解礦床的成因和演化過程。
